EEF 469 Microelectronics Examen 2022
À propos de ce sujet
Examen 2022 de EEF469 (EEF 469) Microelectronics (Niveau 400, Premier semestre), Faculty of Engineering and Technology - FET, University of Buea : ancien sujet disponible sur Shoracy. Corrigé proposé inclus.
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University of Buea
Faculty of Engineering and Technology - FET
Electrical and Electronic Engineering - EEF
Microelectronics
Examen · Premier semestre · Niveau 400
Extrait du sujet
- 1.
An abrupt silicon p-n junction consists of a p-type region containing 2 × 10 16 cm −3 acceptors and 10 15 cm −3 donors. It also has an n-type region containing 10 16 cm −3 acceptors in addition to 10 17 cm −3 donors. Calculate the thermal equilibrium density of electrons and holes in the p-type region as well as both densities in the n-type region. (10 pts)
- 3.
Derive the expression for the barrier potential (φnp) in a PN junction semiconductor material. (10 pts)
En bref
- Code du cours
- EEF469 (EEF 469)
- Type
- Examen
- Année
- 2022
- Niveau
- Niveau 400
- Semestre
- Premier semestre
- Corrigé proposé
- Inclus
Provenance
Université
University of BueaFaculté
Faculty of Engineering and Technology - FETDépartement
Electrical and Electronic Engineering - EEF
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